飽和逃逸

深度分析

飽和現象與逃逸條件：三層結構干預模型於LLM、強化學習與貝式最佳化的應用

研究探討閉環知識系統在持續回饋下的飽和現象，提出三層操作框架以結構參數θ區分內部迭代與外部干預，並以度量條件與KL界定逃逸可能性，實驗顯示在LLM程式修復、稀疏回饋強化學習與貝式最佳化中提升品質。此框架亦提供跨領域診斷工具，協助開發者設計可驗證的結構干預，預測AI系統在長期迭代中的表現走向。