機率標籤排序

深度分析

機率標籤排序校準框架：全序、子序與 Top‑k 層級的理論與實驗分析

本研究針對機率標籤排序提出校準概念，建立全排序、子排序與前k排序的層級定義，證明全排序校準涵蓋其他但子排序與前k校準不可相互推導，實驗顯示現有模型校準度不足且子排序與前k指標差異明顯，於RLHF獎勵模型中校準度與準確度高度相關，提示校準是超越top‑1準確度的重要品質指標。