深度分析 以單應性與 Lipschitz 最適化進行形式化驗證：從相機位姿到像素的投影界限 背景：現行驗證倚重像素級ℓp擾動，無法精準涵蓋相機運動所致透視變形。本文以Lipschitz最適化從位姿參數導出閉式單應性，並結合分段線性界定獲得像素上下界，能整合既有驗證器。實驗顯示實作在速度與界限緊度上均優於先前方法。並指出實務案例中的弱點與認證挑戰
