多模態注意力

缺陷生成

Universal Defect Generation (UDG) 資料集與 UniDG 通用缺陷生成基礎模型概述

現有缺陷生成方法因樣本不足易過擬合，研究提出 30 萬筆四元組的 UDG 大規模資料集，並開發支援參考圖與文字指令的 UniDG 通用生成模型。實驗顯示其在合成品質與異常偵測上均優於既有基線，提升了模型的多樣性與真實感。