深度分析 因果參數漂移模擬與 SCM 數位雙生:分類器健壯性與破壞點分析 在動態環境中,概念漂移會逐步侵蝕機器學習分類器效能。本文改寫自最新研究,提出以結構因果模型(SCM)為核心的數位雙生框架,透過「因果參數漂移模擬」在保留因果結構下對模型進行情境化壓力測試。